Caractérisation des matériaux
Trusted material characterization enhancing scientific results
15 résultats affichésTrié par popularité
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VANTAGE 2
Système de recherche en cybertechnologies à large spectre
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VANTAGE 50
Cyber Technologies Profilomètre optique 3D de haute précision
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CT 100
Cyber Technologies Profilomètre optique 3D de haute précision
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CT 300
Profilomètre optique 3D sans contact de Cyber Technologies
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CT 350S
Profilomètre optique 3D à fonctionnement cryogénique
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CT 350T / CT 250T
Profileur de surface de haute précision pour le contrôle de la qualité
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CT 600S
Profileur de surface sans contact pour le contrôle de la qualité
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CT R200
Profileur de surface sans contact pour le contrôle de la qualité
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CAPTEURS DE POINT
Détecteur sensible à faible bruit pour mesures scientifiques
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CAPTEURS DE POINT
Système de recherche avancé pour applications en laboratoire
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AREA SENSORS – 3D WHITE LIGHT INTERFEROMETER
3D White Light Interferometer
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CAPTEURS DE POINT
Spectromètre analytique de masse à haute sensibilité
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Logiciel SCAN CT
Filtres de précision Cyber Technologies avec trame rapide
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VISTA ONE IR
Le microscope PiF original pour l'analyse chimique nano-IR de Molecular Vista
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Microscope et spectromètre nano-IR VISTA 75
La prochaine génération d'instruments PiFM et PiF-IR
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